波长范围140 – 680nm
像素分辨率10ppm
检测器高性能线阵CMOS
激发光源全数字等离子火花光源技术
凹面光栅刻线密度3600l/mm
测试元素Mg~U
检测对象固体、粉末、液体
探测器Fast-SDD
分辨率128eV
探险者EXPLORER手持式X荧光光谱仪(手持式光谱仪)是多环芳烃质谱分析仪仪器结合10年手持式研发经验,集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术,研制出具有自主知识产权的,全新一代手持XRF产品。EXPLORER 5000手持式XRF合金分析仪是使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的手持合金分析仪。**低的检出限使手持式分析仪的性能媲美台式机;仪器体积小,重量轻,可随身携带进行测量,适用于各类型合金样品的分析。
全谱分析技术,方便配置更多基体和元素,方便在用户现场补充配置
仪器体积小巧,对实验室空间要求低
全天候工作,具有优异的稳定性和可靠性
样品测试速度快,单次测试过程少于40秒
仪器使用和维护简单、方便,对人员专业要求低
原厂安装分析程序,测试数据精确,适用合号齐全
配置标准化样品可对仪器进行周期性校正
不使用化学试剂,测试过程安全、环保
测试环境需要实验室环境,需要配备相关的样品处理设备,需要气体(Ar)环境保护,所以需要一定的维护费用。并且测试样品后有损伤。但分析精度非常高,一次可分析多种元素,分析时间短。多环芳烃质谱分析仪仪器相对其它分析仪器较为昂贵。
全谱检测全面测试各种金属和元素
基于COMS检测器全谱测试技术,全面测试各种金属中元素的谱线,方便实现多基体、多元素的测试。
配置和补充测试基体、通道、分析程序较为方便,方便交货后在客户处补充测试元素、分析程序。
国际供应商提供核心部件
光谱色散元件——光栅由德国Zeiss/法国JY公司制造,保证优异的光谱分辨能力
光谱检测器——COMS探测器由日本滨松制造,确保谱线检测灵敏、低噪声
光室恒温系统
光室恒温腔体内配置反馈式加热装置和高效隔温层,有效保证光室内恒温。
由此抑制温度变化下机械件尺寸微弱变化导致的光路漂移。除特殊维护,平时保养一般不需进行描迹。
同时检测器工作在恒温环境有助于光电转换性能的稳定。
快速同时分析钢铁、有色金属材料中多种元素
将已预处理样品置于样品台后,OES8000s可在至多40秒内呈现测试结果。
可根据客户需求,测试几乎所有钢铁、有色金属材料中常见元素含量。
专业的测试方案
长期测试技术服务的积淀,多环芳烃质谱分析仪仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。
测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序,满足用户各类常见测试需求。
分析程序由原厂采用国际、国家标准样品校准,经专业仪器软件拟合、校正。
用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护,不需购买大量制作分析程序的标准样品。
配件
**级高强度保护箱,有良好的防潮防震防压三防功能,紧急状况时可用作救援工具
马蹄形一体大电池: 27000mAh容量,延长测试时间3倍,还可当座式支架使用
便携式蓝牙打印机,实现原位现场打印数据
一拖四车载充电器,野外延长充电次数
便携式及座式支架可供客户使用更多选择
XRF设备应用于合金行业的劣势:
1.没有国家标准支持;测试出来的结果不具有性.
2.XRF设备的分析方法是采用标准样品对析方法,而合金行业庞杂,元素含量范围跨度大。虽然使用基本参数法可以对合金中常量元素进行测试,但若需要准确度较高的测量,则必须有与测试样品相类似的标样,使用经验系数法进行建标测试,部分合金样品标准样较少,因此需要客户提供相类似的合金标样配合。
3.XRF设备对于轻元素的检出能力较差,因此对于合金中的C,P,S等低含量的轻元素,其检出能力有限。需要配合其它设备进行检测。
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